?電容觸摸屏的環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)，需要按照DB44/T 2009-2017的標(biāo)準(zhǔn)來(lái)實(shí)施。相關(guān)的環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)包括高低溫，冷熱沖擊，濕熱試驗(yàn)，下面為大家簡(jiǎn)單介紹一下相關(guān)試驗(yàn)的方法步驟。

試驗(yàn)分為四項(xiàng)：冷熱沖擊試驗(yàn)，低溫存儲(chǔ)，高溫存儲(chǔ)，高溫高濕存儲(chǔ)。這里的試驗(yàn)建議大家使用冷熱沖擊試驗(yàn)箱和恒溫恒濕試驗(yàn)箱來(lái)完成。

下面是電容觸摸屏的環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)方法：

1.冷熱沖擊試驗(yàn)：
將不包裝不通電的產(chǎn)品這在冷熱沖擊試驗(yàn)箱中，交替溫度分別設(shè)置為-40℃±3℃和80℃±2℃,各停留30分鐘，為一次循環(huán)，沒(méi)定溫度變化率＞25℃/min，高低溫轉(zhuǎn)換時(shí)間在5分鐘以內(nèi)，連續(xù)循環(huán)10次，取出產(chǎn)品，在室溫(20℃~25℃)下恢復(fù)2小時(shí)后進(jìn)行外觀結(jié)構(gòu)和性能檢測(cè)。

2.低溫儲(chǔ)存：
將不包裝不通電的產(chǎn)品放在低溫試驗(yàn)箱中，溫度設(shè)置為-40℃±3℃，存放24小時(shí)，取出產(chǎn)品，在常溫下恢復(fù)2小時(shí)后進(jìn)行外觀結(jié)構(gòu)和性能檢測(cè)。

3.高溫儲(chǔ)存
將不包裝不通電的產(chǎn)品放在高溫試驗(yàn)箱中，溫度設(shè)置為80℃±2℃，存放24小時(shí)，取出產(chǎn)品，在常溫下恢復(fù)2小時(shí)后進(jìn)行外觀結(jié)構(gòu)和性能檢測(cè)。

4.高溫高濕儲(chǔ)存
將不包裝不通電的樣品放在高溫高濕試驗(yàn)箱中，溫度設(shè)置為60℃±2℃，濕度設(shè)置為90%RH士3%RH，存放48小時(shí)，取出產(chǎn)品，在常溫下恢復(fù)2小時(shí)后進(jìn)行外觀結(jié)構(gòu)和性能檢測(cè)。

測(cè)試方法比較簡(jiǎn)單，重點(diǎn)是在于試驗(yàn)箱的程式設(shè)定，程式設(shè)置好了才能正常進(jìn)行試驗(yàn)。如遇到解決不了的問(wèn)題，請(qǐng)直接咨詢我們。